Szukaj

Druk i naklejanie etykiet

MEKI ONE

MEKI C jest szczególnie skuteczny w inspekcji zapakowanych produktów.

Czytaj więcej

MEKITM ONE to kompletny krytyczny punkt kontroli w jednej kompaktowej maszynie. Projekt ONE to połączenie doskonałej czułości X-ray oraz najmniejszych rozmiarów urządzenia. Zachowuje ono najnowsze osiągi i funkcjonalności wymagane przez globalne standardy jakości, takie jak zintegrowany odrzut, pojemnik na odrzucone produkty, potwierdzenie odrzutu oraz raporty systemowe.




Specyfikacja techniczna:

Obszar detekcji240 mm x 110 mm
Prędkość przenośnikamin. 0.1 m/s maks. 1.3 m/s
Moc promieniowania30-60 kV, 0.2–2.5 mA, maks. 100 W
Radiacjaponiżej 1 µSv/h
Detektorskaner liniowy, rozdzielczość 0.4 mm
OprogramowanieSystem SW inspekcji X-ray Mekitec
System operacyjnyWindows 10
PołączeniaUSB, Ethernet
HMIkolorowy wyświetlacz 12” TFT LCD
Temperatura pracy0-35°C otoczenie
Chłodzenieopcjonalny klimatyzator
Klasyfikacja IPIP54
Wilgotność względna30-85%, nieskondensowana
Zasilanie systemu110/240 VAC, 50-60 Hz
Wymiary (w x d x h)1200/1280 mm x 715 mm x 2000 mm
Waga155 kg
Materiałstal nierdzewna szczotkowana
Opcje odrzutuzintegrowany odrzut pneumatyczny z pojemnikiem i stand.
Przenośnikpas przenośnika zatwierdzony do kontaktu z żywnością w UE i USA
Ochrona antyradiacyjnaEN 61010-02-091, FDA CFR 21 part 1020, 40
Wyłączniki bezpieczeństwaobwód bezp. CAT 3, poziom wydajności PL d

MEKITM ONE jest szczególnie skuteczny w inspekcji zapakowanych produktów.

Kontakt